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SRH統計 : ウィキペディア日本語版
SRH統計
SRH統計(''Shockley-Read-Hall process''もしくは''Shockley-Hall-Read process'')は、半導体中の深い準位によるキャリア生成再結合(捕獲及び放出)の時定数に関してあらわしたモデル。1952年に W.Shockley、T.Readらにより提唱され、一般に使用されているモデルである。
このモデルでは、深い準位によるキャリアの捕獲の時定数\tau_n^, \tau_p^を捕獲されるキャリアの密度と捕獲断面積で決定される時定数で表し、深い準位からのキャリアの放出の時定数\tau_n^, \tau_p^を捕獲断面積とその深い準位のエネルギーで表している。
伝導帯、価電子帯、深い準位のエネルギーをE_C, E_V, E_Tとし、電子密度、ホール密度をn,pとした場合、それぞれの時定数は次の4つの式で表記される。
\tau_n^ = ,
\tau_n^ =
\tau_p^ = ,
\tau_p^ =
ただし、
n_1 = N_C \exp ( )
p_1 = N_V \exp ( )
DLTSでは、上記のn_1,p_1がエネルギーと温度の関数であることを利用して、応答時間の違いから深い準位のエネルギーを算出する。
== 参考文献 ==

* W.Shockley and T.Read, Phys.Rev 87.835 (1952)

抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア(Wikipedia)
ウィキペディアで「SRH統計」の詳細全文を読む



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