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二川 清（にかわ きよし、1949年 - ）は、日本の技術者である。大阪府出身。 現在、一般的に使われている半導体故障解析技術である、IR-OBIRCHの開発者の一人として知られる。 大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。現、金沢工業大学大学院工学研究科客員。 == 主な著書 == * 『はじめてのデバイス評価技術』（工業調査会、2000年） * 『故障解析技術』（日科技連出版社、2008年） * 『LSIテスティングハンドブック』（編著、オーム社、2008年） * 『信頼性問題集』（編著、日科技連出版社、2009年） * 『LSIの信頼性』（編著、日科技連出版社、2010年） * 『新版 LSI故障解析技術』（日科技連出版社、2011年） 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「二川清」の詳細全文を読む スポンサード リンク
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