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光電子分光（こうでんしぶんこう、photoemission spectroscopy）とは、固体に一定エネルギーの電磁波をあて、光電効果によって外に飛び出してきた電子（光電子とよばれる）のエネルギーを測定し、固体の電子状態を調べる方法である。 測定対象となる物質は主に金属や半導体であり、絶縁体はチャージアップの関係から測定には不向きである． カイ・シーグバーン (Kai M. Siegbahn) は高分解能光電子分光法の開発で1981年のノーベル物理学賞を受賞している。 == 分類 == * X線光電子分光 (XPS)：照射する光にX線を用いる。XPSは元素の内殻電子の状態を知る目的などで使用される。 * 紫外光電子分光 (UPS) ：紫外線を照射する。UPSからは固体の状態密度がわかる。 * 光電子の運動量まで測定する方法を角度分解型光電子分光 (Angle-resolved Photoemission Spectroscopy, ARPES) という。 2009年現在ではエネルギー分解能 150 μeV、角度分解能 0.1°程度の高精度の測定が可能である。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「光電子分光」の詳細全文を読む 英語版ウィキペディアに対照対訳語「 Photoemission spectroscopy 」があります。 スポンサード リンク
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