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自動光学検査 : ウィキペディア日本語版
自動光学検査
自動光学検査Automated Optical Inspection;AOI)とは、プリント基板(PCB)や液晶ディスプレイの製造における自動外観検査。デバイスをカメラで自律スキャンし、重大欠陥(たとえば部品欠落)や品質欠陥(たとえばフィレットのサイズ、形状や部品の歪み)を検査するものである。
非接触/非破壊のテスト方式であるため、多くのPCB製造工程で一般的に使用され、ベアボード(裸基板)検査、半田ペースト検査(Solder Paste Inspection ; SPI)、リフロー前後(pre-reflow and post-reflow AOI)などに導入されている。
== 表面実装(SMT)検査 ==
表面実装されたプリント基板のAOIにおいては、以下のような欠陥を検査できる:
* 面欠陥(Area defects)
* Billboarding
* Component offset
* Component polarity
* Component presence or absence
* 部品のねじれ/歪み(Component Skew)
* Excessive Solder Joints
* Flipped component
* Height Defects
* Insufficient Paste around Leads
* 半田薄/半田不足(Insufficient Solder Joints)
* Lifted Leads
* No Population tests
* Paste Registration
* Severely Damaged Components
* 半田ブリッジ/ショート(Solder Bridges)
* ツームストーン/チップ立ち(Tombstoning)
* 体積欠陥(Volume Defects)
* Wrong Part

抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア(Wikipedia)
ウィキペディアで「自動光学検査」の詳細全文を読む



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