翻訳と辞書 Words near each other ・ FDMA ・ FDNY ・ FDP ・ FDR ・ FDRE ・ FDS ・ FDTD ・ FDX ・ FE ・ Fe ・ FE-SEM ・ FE2 ・ FEA ・ FEAF ・ FEAL ・ fealty ・ Feam ・ FEAR ・ fear ・ fear death Dictionary Lists mini英和辞書 mini和英辞書 Webster 1913 Latin-English FOLDOC Wikipedia English ウィキペディア

翻訳と辞書　辞書検索 [ 開発暫定版 ] スポンサード リンク FE-SEM （ リダイレクト：走査型電子顕微鏡 ） ： ウィキペディア日本語版 走査型電子顕微鏡[そうさがたでんしけんびきょう] 走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、Scanning Electron Microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（）と呼ばれる。 TEMでは主にサンプルの内部、SEMでは主にサンプル表面の構造を微細に観察する。 == 原理 == 透過型のように試料全体に電子線を当てるのではなく、走査型では細い電子線で試料を走査（scan）し、電子線を当てた座標の情報から像を構築して表示する。観察試料は高真空中（10-3Pa以上）に置かれ、この表面を電界や磁界で絞った電子線（焦点直径1-100nm程度）で走査する。走査は直線的だが、走査軸を順次ずらしていくことで試料表面全体の情報を得る。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「走査型電子顕微鏡」の詳細全文を読む 英語版ウィキペディアに対照対訳語「 Scanning electron microscope 」があります。 スポンサード リンク 翻訳と辞書 : 翻訳のためのインターネットリソース Copyright(C) kotoba.ne.jp 1997-2016. All Rights Reserved.