翻訳と辞書 |
TEM
TEM TEM TEM ( リダイレクト:透過型電子顕微鏡 ) : ウィキペディア日本語版 | 透過型電子顕微鏡[とうかがたでんしけんびきょう]
透過型電子顕微鏡(とうかがたでんしけんびきょう、Transmission Electron Microscope; TEM)とは、電子顕微鏡の一種である。観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡のこと。また、電子の波動性を利用し、資料内での電子の回折の結果生じる干渉像から観察対象物の構造を観察する場合もある。物理学、化学、工学、生物学、医学などで幅広く用いられている。 ==原理== 観察対象に電子を当てて、透かして観察することになるため、対象をできるだけ薄く(厚さ100nm以下)切ったり、電子を透過するフィルムの上に薄く塗りつけたりして観察する。 対象の構造や構成成分の違いにより、どのぐらい電子線を透過させるかが異なるので、場所により透過してきた電子の密度が変わり、これが顕微鏡像となる。 像は、電磁コイルを用いて透過電子線を拡大し、電子線があたると光を発する蛍光板にあてて映るものを観察したり、専用のネガフィルムやCCDカメラで写真を撮影したりすることにより得られる。
抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア(Wikipedia)』 ■ウィキペディアで「透過型電子顕微鏡」の詳細全文を読む
英語版ウィキペディアに対照対訳語「 Transmission electron microscopy 」があります。
スポンサード リンク
翻訳と辞書 : 翻訳のためのインターネットリソース |
Copyright(C) kotoba.ne.jp 1997-2016. All Rights Reserved.
|
|