|
===================================== 〔語彙分解〕的な部分一致の検索結果は以下の通りです。 ・ エレクト ： [えれくと] (n) erect, (n) erect ・ ー ： [ちょうおん] (n) long vowel mark (usually only used in katakana)
エレクトロケミカルマイグレーション () とは、電気回路上の電極間の絶縁性が電気的、化学的また熱等の要因により不良となり、電極金属がイオンとして溶出・還元されることで短絡を起こす現象である。エレクトロマイグレーションと似ているが、化学的及び熱的要因を伴うという点で異なっている。エレクトロケミカルマイグレーションはアメリカ電子回路協会 (IPC) の定義した用語で、日本ではイオンマイグレーションと呼称される場合が多い。 ==歴史== エレクトロマイグレーション（以下、IPC-9201に従いEMgとする）に関する最初の論文は1955年に発表され、この中では と呼ばれていた。その後IPCが、半導体内部における電気的要因によるマイグレーションのみをEMgと呼称し、半導体実装部における、外的要因を伴うマイグレーションをエレクトロケミカルマイグレーション（以下、同様にECMgとする）と定義した（IPC-TR-467A-1995）。 国内においては電気学会が、電気学会技術報告559号において、IPCの定義とほぼ同時期にイオンマイグレーションを定義し、国内ではこの呼び方が一般的となった。 その後2007年、JPCA規格上においてECMgとイオンマイグレーションの統一が行われ、「エレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション併記）」とされた（JPCA-ET01–09）。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「エレクトロケミカルマイグレーション」の詳細全文を読む スポンサード リンク
|