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半導体故障解析（はんどうたいこしょうかいせき）とは、集積回路（半導体デバイス）において、製造過程での不良品や、故障品の何処に異常があるのかを解析する事、又、その技術である。 == 概要 == 極めて多くの素子の集合体である集積回路に於いて、何処が、どの様に、壊れているのかを解析する技術である。LSIテスタ（半導体試験装置）では、不良品である事は分かっても、その回路の何処に異常があるのかまでは分からない。数千万ものトランジスタが集積された回路に於いて、その一つ一つを試験していくのは現実的ではなく、又、それ以上に配線の不良などもあり得る。従って、集積回路の登場当初から、集積度の向上に伴って、故障解析技術も進歩している。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「半導体故障解析」の詳細全文を読む スポンサード リンク
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