|
===================================== 〔語彙分解〕的な部分一致の検索結果は以下の通りです。 ・ 原 ： [はら, もと] 1. (n,n-suf,n-t) (1) origin 2. basis 3. foundation ・ 原子 ： [げんし] 【名詞】1. atom 【形容詞】2. atomic ・ 子 ： [こ, ね] (n) first sign of Chinese zodiac (The Rat, 11p.m.-1a.m., north, November) ・ 間 ： [けん, ま] 【名詞】 1. space 2. room 3. time 4. pause ・ 力 ： [ちから, りょく] 1. (n-suf) strength 2. power ・ 顕微 ： [けんび] (adj-na,n) microscopic ・ 顕微鏡 ： [けんびきょう] 【名詞】 1. microscope
原子間力顕微鏡（げんしかんりょくけんびきょう、Atomic Force Microscope; AFM）〔G. Binnig, C. F. Quate, & Ch. Gerber, "Atomic Force Microscope", ''Phys. Rev. Lett.'' 56, 930–933 (1986)〕は、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種。その名のとおり、試料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る。 原子間力はあらゆる物質の間に働くため容易に試料を観察することができるため、探針と試料表面間に流れるトンネル電流を利用するSTMとは異なり、絶縁性試料の測定も可能である。また電子線を利用するSEMのように導電性コーティングなどの前処理や装置内の真空を必要とする事もない。このため、大気中や液体中、または高温～低温など様々な環境で、生体試料などを自然に近い状態で測定できる。 他の走査型プローブ顕微鏡と同様に空間分解能は探針の先端半径（nm程度）に依存し、現在では、原子レベルの分解能が実現されている。 == 測定原理 == カンチレバー(片持ち梁)の先端に取り付けた鋭い探針を用いて、試料表面をなぞる、または試料表面と一定の間隔を保って試料表面を走査し、その時のカンチレバーの上下方向への変位を計測することにより、試料表面の凹凸形状の評価を行う。AFMには様々な測定方法があり、以下に代表的な例を挙げる。 抄文引用元・出典: フリー百科事典『 ウィキペディア（Wikipedia）』 ■ウィキペディアで「原子間力顕微鏡」の詳細全文を読む スポンサード リンク
|